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LHX-30602-TO 大功率激光器老化测试系统

LHX-30602-TO 大功率激光器老化测试系统解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产物具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力 强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光器芯片及激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。