半导体激光二级管可靠性老化测试系统

采用半导体激光器寿命和老化测试系统，可以减少测试成本，提高测试效率。系统包含40个可独立加温及加载电流的老化抽屉，最多可支持1280个器件的测试。您可以同时进行多个独立的测试，提高产量，降低成本。此系统设计非常弹性，允许您在一个系统测试多种不同的封装形式，只需更换不同的老化抽屉即可。系统支持础颁颁和尝滨痴测试，每一个通道的电流典型值为200尘础，可最大定制到2000尘础输出。